FLIR X-HS系列高端红外热像仪是一款集精密测量与广泛应用性于一体的高性能科学级设备。它凭借卓越的探测技术和精密算法，能够在-80°C至+3000°C的宽温度范围内识别细微至0.02°C的温度变化。
特别值得一提的是，FLIR X-HS系列热像仪配备了高达4TB的大容量高速固态硬盘(SSD)无损记录系统，可确保每一次红外图像采集与数据传输都能以高保真度进行长时间、不间断的保存。无遗漏、无失真，这对于需要连续监测、高精度数据记录的科研、国防及工业领域而言，无疑是革命性的突破。
结合其中波红外(MWIR)和长波红外(LWIR)光谱的兼容性，以及10GigE和CoaXPress(CXP)2.1的高速接口，FLIR X-HS系列热像仪不仅满足了严苛的科研需求，更成为科学家、工程师、研究人员及质量保证经理等专业人士在复杂测试场景中不可或缺的得力助手。
FLIR X-HS系列科学红外热像仪可主要应用在弹道学、无损检测、作应力图、PCB和电子部件测试、辐射测量等相关行业。
